超采样成像是利用少数像素传感器实现大规模像素显像能力的技术。它突破了传统像素分辨率极限,绕过了芯片制造水平的限制,为突破像素分辨率成像提供了一种鲁棒性很强的技术途径。
超采样成像技术采用稳态激光技术扫描数字图像传感器,通过稳态光场表达式和输出图像矩阵的关联关系,精确求解出图像传感器像素内量子效率分布。利用获取的像素内量子效率和像素细分算法,即使在拍摄动态目标或移动相机拍摄静态场景的情况下,也能突破原始像素分辨率,实现超采样成像。
超采样成像技术具有很大的应用发展潜力,尤其是在光学遥感、安防等成像领域。以红外图像传感器为例,采用该技术可以利用2k×2k芯片实现8k×8k以上的像素分辨率,突破现有市场化成像芯片分辨率的限制。
该技术已在室内、室外对无人机、建筑、高铁、月亮等目标进行了成像试验,显示了良好的技术鲁棒性。
以下是部分超采样成像效果对比图及相应的定量评价:
超采样成像技术为提升图像传感器像素分辨率和成像质量提供了新的突破口。随着标校精度的进一步提升,像素分辨率还具有进一步的提升空间。该技术有望在各种成像领域发挥重要作用,为图像传感器和成像技术的发展带来新的契机。
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